一、XRD和EDXRF
1.X射线的波长范围大致为多少？X射线产生的基本原理及X射线管的基本结构。
X射线：是一种电磁波，波长为0.01-10nm，具有波粒二象性。
产生：快速带电粒子能量变化受激
原子内层轨道电子能级跃迁
X射线的产生原理（条件）：高速运动的自由电子被突然减速便产生X射线。一般由X射线机、同步辐射源等产生。
X射线管使用最广泛的是封闭式热阴极X射线管，包括一个热阴极（绕成螺线形的钨丝）和一个阳极（靶），窗口，管内高真空（10-7Torr）
阳极：铜质底座上镶以阳极靶材料——W、Ag、Mo、Cu、Ni、Co、Fe、Cr等，产生不同的特征X射线
窗口：用对X射线吸收极少的材料，如Be、Al、轻质玻璃等制成。
2.X射线谱的基本类型及其特点。
X射线谱有连续X射线和特征X射线。
连续X射线：白色X射线由连续的各种波长组成，其波长与工作条件（v、i）无关。
特征X射线：标识X射线作为阳极材料的特征或标识，当管电压超过VK（激发电压）后才产生。
3.描述X射线与物质的相互作用（X射线与物质相互作用产生的物理效应或物理信号）
X射线与物质的作用：散射、吸收和透过
4.X射线衍射的几何条件
布拉格方程或定律
5.X射线分析的方法主要有哪些？各自的特点是什么？（注意与的变化情况）
X射线衍射的方法
单晶：劳厄法（ 变，不变）和转晶法（不变，部分变化）
粉晶：照相法（ 不变，变化）和衍射仪法（不变，变化）
6.X射线衍射物相分析的基本原理。
材料中一种结晶物质称为一个相。利用X射线衍射的方法确定材料中包括哪几种结晶物质或某种物质以何种结晶状态存在，这就是物相分析。
原理：X射线衍射线的位置决定于晶胞的形状和大小，即决定于各晶面的晶面间距，而衍射线的强度决定于晶胞内原子种类、数目及排列方式，每种结晶物质具有独特的衍射花样，且试样中不同物质的衍射花样同时出现互不干涉，某物相的衍射强度取决于它在试样中的相对含量，当试样的衍射图谱中d值和I/I0与已知物质的数值一致时，即可判定试样中含有该已知物质。
7.说明X射线衍射仪法定性分析物相组成的基本过程。
X射线衍射定性分析是将试样的衍射谱与标准衍射谱进行比较鉴别，确定某种物相的存在以及确定该物相的结晶状态。其过程为：
8.何为X射线和荧光X射线？
X射线：由高速电子撞击物质的原子所产生的电磁波。
荧光X射线：当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生荧光X射线，其能量等于两能级之间的能量差。
9.X射线荧光光谱分析的基本原理及主要用途。
基本原理：
⑴试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层（K，L或M层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。
⑵通过测定试样中特征X射线的波长，便可确定存在何种元素，即为X射线荧光光谱定性分析。
⑶元素特征X射线的强度与该元素在试样中的原子数量（即含量）成比例，因此，通过测量试样中某元素特征X射线的强度，采用适当的方法进行校准与校正，便可求出该元素在试样中的百分含量，即为X射线荧光光谱定量分析。
应用：
定性分析：根据荧光X射线的波长或能量可以确定元素的组成。
在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。
如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。
在分析未知谱线时，要考虑到样品的来源，性质等因素，以便综合判断。
不同行业所采用的软件不同，分析的元素种类不同。
定量分析：定量分析的依据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Wi成正比。
采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析，借助于计算机进行分析。
10.X射线分析的主要用途。
现代材料研究的主X射线实验方法在材料研究中主要有以下几种应用：
（1）X射线物相定性分析：用于确定物质中的物相组成
（2）X射线物相定量分析：用于测定某物相在物质中的含量
（3）X射线晶体结构分析：用于推断测定晶体的结构
还可以对晶体生长、形变、相变、取向、结构缺陷、结晶度等方面的研究。聚合物的晶体结构、晶粒尺寸测量、膜厚的测定等。
本文来源：https://www.2haoxitong.net/k/doc/bcbb585d326c1eb91a37f111f18583d049640fb9.html
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